ウェビナー - ORCA-Quest IQ qCMOSカメラを用いた量子ビット状態検出

In collaboration with Dr. Andrew Van Horne, Duke University

June 24, 2026

Scalable high-fidelity trapped ion qubit state detection with the Hamamatsu ORCA-Quest IQ camera

本動画では、デューク大学の Andrew Van Horn 博士によるORCA-Quest IQ qCMOSカメラを用いた量子ビット状態検出を動画でご紹介します。従来の光電子増倍管 (PMT)ベースのシステムに匹敵する性能を示すとともに、カメラベースの検出技術が複数量子ビットの読み出しをどのように簡素化し、イオントラップ型量子コンピュータの発展を支えるのかを解説します。

About the presenter

Dr. Andrew Van Horn received his Ph.D. from Duke University, where he conducted research in Dr. Jungsang Kim's group. His work centered on scalable hardware architectures and enabling technologies for trapped-ion quantum computing.

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